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SIEMENS雷達料位計7ML54400AA000AB1現(xiàn)貨的詳細資料

SIEMENS雷達料位計7ML54400AA000AB1現(xiàn)貨

SIEMENS雷達料位計的測量條件：

測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。

若介質為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。

理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的*至少100mm。

對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。

小測量范圍與天線有關。

隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。

SIEMENS雷達料位計對一個強導電性物料的容器，由于物料是導電的，接地點可以被認為在探頭絕緣層的表面，對變送器探頭來說僅表現(xiàn)為一個純電容，隨著容器排料，探桿上產生掛料，而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現(xiàn)在變成了由電容和電阻組成的復阻抗。

個問題是物料本身對探頭相當于一個電容，它不消耗變送器的能量，（純電容不耗能），但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來，導致橋路輸出改變，產生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個驅動器，使消耗的能量得到補充，因而會穩(wěn)定加在探頭的振蕩電壓。

SIEMENS雷達料位計 P DS III HART系列 7MF4033系列 7MF4433系列 壓力變送器 差壓變送器

SIEMENS雷達料位計7ML54400AA000AB1現(xiàn)貨

7ML54400AA001AA2
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7ML54400AA001AC1
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